**無損檢測技術(shù)資格人員
超聲檢測培訓(xùn)復(fù)習(xí)題匯編
夏紀(jì)真
目 錄
是非判斷題
問答題
選擇題
計算題
一、是非判斷題（在每題后面括號內(nèi)打"X"號表示"錯誤"，畫"○"表示正確）
1.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,實(shí)際是在薄板中產(chǎn)生的一種表面波(X)
2.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,實(shí)際是在中厚板或厚板中產(chǎn)生的一種特殊波型(X)
3.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,只能適用于厚度與波長相當(dāng)?shù)谋“?0)
4.超聲波檢測中應(yīng)用的所謂板波,實(shí)際是在厚板或中厚板中產(chǎn)生的一種表面波(X)
5.超聲波在某一給定的無限大介質(zhì)中傳播時,質(zhì)點(diǎn)振動速度就是聲速(X)
6.超聲波在某一給定的無限大介質(zhì)中傳播時,質(zhì)點(diǎn)振動速度與聲速不是一回事(0)
7.超聲波在某一給定的無限大介質(zhì)中傳播時,質(zhì)點(diǎn)振動速度與聲速實(shí)際上是一回事(X)
8.兩束頻率不同的聲波在同一介質(zhì)中傳播時,如果相遇可產(chǎn)生干涉現(xiàn)象(0)
9.兩束頻率相同但行進(jìn)方向相反的聲波疊加可形成駐波(0)
10.在同一固體介質(zhì)中,縱波,橫波,瑞利波,蘭姆波的傳播速度均為常數(shù)(X)
11.由于在遠(yuǎn)場區(qū)超聲波束會擴(kuò)散,所以探傷應(yīng)盡可能在近場區(qū)進(jìn)行(X)
12.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應(yīng)小于被檢試件中的縱波速度(0)
13.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應(yīng)大于被檢試件中的縱波速度(X)
14.超聲波在介質(zhì)中傳播時,聲能的傳播是由各質(zhì)點(diǎn)的位移連續(xù)變化來傳遞的(0)
15.如材質(zhì)相同,細(xì)鋼棒(直徑＜λ＝與鋼鍛件中的聲速相同(X)
16.超聲波垂直入射至鋼/空氣界面時,反射波和入射波可在鋼中形成駐波(0)
17.只有當(dāng)**介質(zhì)為固體介質(zhì)時,才會有第三臨界角(0)
18.超聲波從液體進(jìn)入固體時也會出現(xiàn)第三臨界角(X)
19.超聲波從固體進(jìn)入液體時有可能會出現(xiàn)第三臨界角(0)
20..當(dāng)試件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時,將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化(0)
21.焊縫斜角探傷時常采用液態(tài)耦合劑,說明橫波可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層(X)
22.用接觸法在試件中產(chǎn)生橫波的方法,唯有利用透聲斜楔使縱波傾斜入射到界面上(X)
23.在異質(zhì)界面上,當(dāng)橫波折射角等于90°時的縱波入射角稱為**臨界角(X)
24.在異質(zhì)界面上,當(dāng)縱波折射角等于90°時的縱波入射角稱為**臨界角(0)
25.在異質(zhì)界面上,當(dāng)橫波折射角等于90°時的縱波入射角稱為**臨界角(0)
26.目前應(yīng)用于超聲波檢測的超聲波波型**于縱波和橫波(X)
27.可以認(rèn)為,目前用超聲波法確定內(nèi)部缺陷真實(shí)尺寸的問題已經(jīng)解決(X)
28.超聲波檢測法不能用于巖石材料(X)
29.目前*常用的超聲波測厚儀利用的是連續(xù)波共振原理(X)
30.目前常用的超聲波測厚儀利用的是超聲連續(xù)波穿透法測厚(X)
31.目前一般的小型數(shù)字式超聲波測厚儀其工作原理基于脈沖回波法(0)
32.目前一般的小型數(shù)字式超聲波測厚儀其工作原理基于諧振法(X)
33.用共振式測厚儀測定聲速的公式是：C=2fn(d/n)，式中fn為共振頻率，n為共振次數(shù)，d為試塊厚度(0)
34.機(jī)械振動在彈性介質(zhì)中的傳播過程稱為機(jī)械波，在振動過程中能量和質(zhì)量交替向前傳播(X)
35.形成球面波或柱面波的差別主要決定于波源的形狀(0)
36.根據(jù)惠更斯定理，可以描繪出超聲波探頭發(fā)出的超聲波在介質(zhì)中的傳播方向(0)
37.方形振子的遠(yuǎn)場計算公式是：N方=1.2D2/4λ(X)
38.聚焦探頭的幾何焦距f相對于同一晶片的非聚焦探頭來說，f必定小于近場長度N(0)
39.聚焦探頭的幾何焦距f相對于同一晶片的非聚焦探頭來說，f必定大于近場長度N(X)
40.聚焦探頭的幾何焦距f相對于同一晶片的非聚焦探頭來說，f可以大于也可以小于近場長度N(X)
41.在鋼中測定為某一折射角的斜探頭，在鋁中測定時其折射角變大(X)
42.在鋼中測定為某一折射角的斜探頭，在鋁中測定時其折射角變小(0)
43.不銹鋼堆焊層比基材鋼的聲阻抗大2%，在兩者界面上的聲壓反射率為0.5%(X)
44.50°橫波入射到端角時超聲波能量反射*低，故應(yīng)避免使用(X)
45.60°橫波入射到端角時超聲波能量反射*低，故應(yīng)避免使用(0)
46.超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率越高,探傷頻率也越高(X)
47.超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率與探傷頻率不是一回事(0)
48.超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率與探傷頻率是一回事(X)
49.確定探頭掃查速度時不必考慮儀器的脈沖重復(fù)頻率(X)
50.確定探頭掃查速度時需要考慮儀器的脈沖重復(fù)頻率(0)
51.任何探頭電纜,只要是高頻的,在任何情況下均可互換使用(X)
52.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過高(0)
53.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過低(X)
54.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減大的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過高(X)
55.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減大的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過高(X)
56.多通道探傷儀是由多個或多對探頭同時工作的探傷儀(X)
57.數(shù)字化超聲波探傷儀和模擬式超聲波探傷儀是一回事(X)
58.超聲波探傷儀中飽和放大器的輸出電壓與輸入電壓之間呈線性關(guān)系(X)
59.通用超聲波探傷儀探頭內(nèi)裝的是屬于γ系列換能器(0)
60.現(xiàn)代超聲波儀器中的底波衰減旋鈕可用來監(jiān)視工件底波變化(0)
61.B型顯示的超聲波儀器可測定缺陷至工件表面的距離(0)
62.頻帶越寬，脈沖越窄(0)
63.頻帶越窄，脈沖越寬(0)
64.超聲波檢測中，1.25MHz探頭的分辨率比5MHz探頭的分辨率差(0)
65.超聲波檢測中，1.25MHz探頭的分辨率比5MHz探頭的分辨率差(X)
66.超聲波檢測中，5MHz窄脈沖探頭的分辨率比5MHz普通探頭的分辨率高(0)
67.超聲波檢測中，10MHz探頭的分辨率比5MHz探頭的分辨率高(0)
68.當(dāng)超聲波聲程大于3N時，如聲程相同，若長橫孔直徑相差一倍時，則波高相差6dB(X)
69.當(dāng)超聲波聲程大于3N時，如聲程相同，若平底孔面積相差一倍，則波高相差12dB(X)
70.超聲波檢測儀是利用壓電效應(yīng)發(fā)射超聲波的(X)
71.同一探頭在鋼中的近場N要比在水中的近場長(X)
72.相同直徑的探頭其工作頻率高的指向性好(0)
73.質(zhì)點(diǎn)振動三次所需要的時間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播三個波長的距離(0)
74.超聲波通過介質(zhì)時，施加于介質(zhì)表面的壓強(qiáng)稱為聲壓，它與聲阻抗成正比，與質(zhì)點(diǎn)振速成反比(X)
75.一般的超聲波檢測儀在有抑制作用的情況下其垂直線性必然變壞(0)
76.垂直通過單位面積的聲能稱為聲強(qiáng)，它具有"功"的概念(X)
77.脈沖寬度大的儀器其頻帶寬度也大(X)
71.鋼板超聲波檢測時,若無底波反射,則說明板中并無缺陷(X)
72.鋼板超聲波檢測時,只要根據(jù)有無缺陷波反射,即可判斷板中有無缺陷(X)
73.用板波法探測厚度5mm以下薄鋼板時,不僅能檢出內(nèi)部缺陷,同時能檢出表面缺陷(0)
74.用板波法探測厚度5mm以下薄鋼板時,僅能檢出表面缺陷，而內(nèi)部缺陷須用其他方法檢測(X)
75.鋼管水浸聚焦法探傷時,不宜采用線聚焦探頭探測較短缺陷(0)
76.鋼管水浸聚焦法探傷時,不宜采用線聚焦探頭探測較長缺陷(X)
77.鋼管水浸聚焦法探傷時,為了提高檢測效率，采用線聚焦探頭就能保證檢出所有缺陷(X)
78.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＞0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時,中心聲束會達(dá)不到管子的內(nèi)壁(0)
79.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＜0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時,中心聲束會達(dá)不到管子的內(nèi)壁(X)
80.在鍛件的超聲波檢測中,有關(guān)缺陷的定性定量問題已經(jīng)解決(X)
81.在超聲波檢測技術(shù)中,有關(guān)缺陷的定性定量問題已經(jīng)解決(X)
82.調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法,其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評定鍛件質(zhì)量等級(X)
83.探測根部未焊透缺陷時,一般不宜選用折射角為60°的斜探頭(0)
84.探測根部未焊透缺陷時,一般不宜選用折射角為45°的斜探頭(X)
85.探測根部未焊透缺陷時,一般不宜選用折射角為70°的斜探頭(X)
86.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時,探傷面曲率越大,耦合效果越好(X)
87.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時,探傷面曲率越大,耦合效果越差(0)
88.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時,探傷面曲率半徑越大,耦合效果越好(0)
89.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時,探傷面曲率半徑越大,耦合效果越差(X)
90.對于表面下的缺陷,在合適條件下也可以考慮采用爬波進(jìn)行檢測(0)
91.在平整光滑表面，為獲得*佳的聲學(xué)耦合，施加于塑料保護(hù)膜探頭的壓力要比鋼保護(hù)膜探頭大(X)
92.對于粗糙表面，適宜選用塑料保護(hù)膜探頭(0)
93.鑄鋼件毛坯接觸法探傷主要使用的探頭是雙晶縱波探頭和塑料保護(hù)膜直探頭(0)
94.鑄鋼件毛坯接觸法探傷主要使用的探頭是高頻直探頭或斜探頭(X)
95.草狀波在探測軸類鍛件中出現(xiàn)的原因主要是鋼材中晶粒粗大造成的(0)
96.圓柱形鍛件可用底波作基準(zhǔn)調(diào)節(jié)靈敏度的條件是：d≥3.7N（N-近場長度，d-工件直徑）(0)
97.使用聲學(xué)聚焦透鏡能提高靈敏度和橫向分辨率，但是減小了檢測范圍(0)
98.窄脈沖的超聲波其穿透能力較小(0)
99.窄脈沖的超聲波其穿透能力較大(X)
100.窄脈沖的超聲波其分辨率較低(0)
101.窄脈沖的超聲波其分辨率較高(0)
102.雙晶縱波探頭使用階梯形試塊調(diào)整儀器掃描線，但在測厚時必須在和被測厚度相同的階梯上校正(0)
103.超聲波檢測大鍛件時使用的重復(fù)頻率比管子自動探傷時更高(X)
104.超聲波儀器脈沖寬度增加時會增加工件側(cè)面干擾(0)
105.超聲波儀器的C型顯示能展示工件中缺陷的長度和寬度，但不能展示其深度(0)
106.超聲波儀器的B型顯示能展示工件中缺陷沿探測方向截面的寬度和深度，但不能展示其探測方向上的長度(0)
107.超聲波儀器的C型顯示屬于三維立體顯示(X)
108.超聲波儀器的B型顯示屬于二維顯示(0)
109.在距離-振幅曲線上，橫孔表現(xiàn)較平坦，平底孔較陡，球孔更陡(X)
110.軸類零件作超聲波檢測時，若遇到有游動訊號出現(xiàn)，則應(yīng)認(rèn)為軸的內(nèi)部有危險性缺陷存在(X)
111.在接觸法超聲波檢測中，應(yīng)對工件檢測面的表面光潔度提出要求，表面光潔度以盡量高為佳(0)
112.超聲波檢測儀器中的TCG裝置（或DAC裝置）是專門為了距離補(bǔ)償而設(shè)置的(0)
113.目前較少采用橫波直探頭的原因是橫波有探頭傳入工件困難(0)
114.按照經(jīng)典理論，超聲波檢測方法所能檢測的*小缺陷尺寸大約是二分之一波長(0)
115.對于一個尺寸小于0.8(λS)1/2（S為聲程）的缺陷，其波高F與底波高度B的比值（F/B）隨探頭尺寸的增大而增大(X)
116.面狀缺陷在焊縫超聲波檢測中應(yīng)評為不合格(0)
117.傳播于工件表面，質(zhì)點(diǎn)振動方向與工件表面平行的橫波稱為"樂甫波"(0)
118.在超聲波自動化檢測中，必須考慮儀器重復(fù)頻率對檢驗(yàn)速度的影響(0)
119.當(dāng)被檢材料的晶粒尺寸大于1/10波長時，超聲波的散射會影響試驗(yàn)結(jié)果(0)
120.在超聲波檢測中，如果使用的重復(fù)頻率過高，在探測粗晶材料時會出現(xiàn)林狀回波(X)
121.可以用電磁-聲探傷法實(shí)現(xiàn)非接觸式超聲波檢測，從而進(jìn)一步提高超聲波檢測自動化程度(0)
122.采用縱波法檢查鋼板時，探頭掃查移動方向以平行于鋼板壓延方向較好(X)
123.用直探頭探測同一缺陷，探頭直徑增大時，缺陷波增高，底波高度也會增高(0)
124.用直探頭在軸類鍛件的圓周面上進(jìn)行周向掃查時，只有徑向缺陷才會產(chǎn)生游動信號(X)
125.由于鑄件中的缺陷主要產(chǎn)生在澆冒口部位，因此在鑄件的超聲波檢測中，檢測的重點(diǎn)應(yīng)放在澆冒口部位，其它部位可以不檢查或做一般性檢查(X)
126.管子超聲波探傷必須采用水浸聚焦方法是因?yàn)楣茏忧蕦Τ暡ㄓ猩⑸渥饔?X)
127.焊縫中的裂紋都是在焊液冷卻凝固過程中產(chǎn)生的，焊接終了之后就不會再發(fā)生，因此在焊縫冷卻到室溫時即可進(jìn)行超聲波檢測(X)
128.即使使用帶有缺陷自動報警裝置和缺陷自動記錄裝置的超聲波檢測儀，在檢測過程中探頭移動速度也必須限制在一定范圍內(nèi)，不宜太快(0)
129.厚焊縫采用串列法掃查時，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)。(X)
130.較薄鋼板采用底波多次法探傷時，如出現(xiàn)"疊加效應(yīng)"，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大。(X)
131.當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時，由于缺陷多次反射波互相干涉容易形成"疊加效應(yīng)"。(X)
132.采用雙探頭串列法掃查焊縫時，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。(0)
133.焊縫斜角探傷時，如采用直射法，也應(yīng)該考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響(0)
134.由于探頭折射角較大，在焊縫一側(cè)用全跨距探傷，即可掃查到整個焊縫截面，因此沒有必要從焊縫另一側(cè)探傷(X)
135.用雙晶直探頭對平面工件探傷時，*好的操作方法是使隔聲層垂直于探頭掃查方向(0)
136.用雙晶直探頭對平面工件探傷時，*好的操作方法是使隔聲層垂直于探頭掃查方向(X)
137.用雙晶直探頭對平面工件探傷時，*好的操作方法是使隔聲層與探頭掃查方向呈45°夾角(X)
138.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測時，通常使用頻率較低的探頭和粘度較高的耦合劑(0)
139.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測時，通常使用頻率較高的探頭和粘度較低的耦合劑(X)
140.焊縫的超聲波檢測一般應(yīng)在外觀檢查合格之后進(jìn)行(0)
141.焊縫的超聲波檢測一般應(yīng)在焊縫冷卻至室溫之后即可進(jìn)行(X)
142.電渣焊的焊縫超聲波檢測一般應(yīng)在正火處理之后進(jìn)行(0)
143.電渣焊的焊縫的超聲波檢測在焊縫冷卻至室溫之后即可進(jìn)行(X)
144.容易產(chǎn)生延遲裂紋的焊縫應(yīng)在至少焊后24小時之后進(jìn)行超聲波檢測(0)
145.選擇焊縫探傷中的斜探頭折射角時，為使整個焊縫截面不漏檢，選用的折射角β必須滿足tgβ≤(D+L)/T（式中：D-焊縫寬度；L-探頭前沿長度；T-鋼板厚度）(X)
146.選擇焊縫探傷中的斜探頭折射角時，為使整個焊縫截面不漏檢，選用的折射角β必須滿足tgβ≥(D+L)/T（式中：D-焊縫寬度；L-探頭前沿長度；T-鋼板厚度）(0)
147.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為30°的斜探頭(X)
148.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為45°的斜探頭(X)
149.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為60°的斜探頭(0)
150.在焊縫的超聲波檢測中，為了防止遇到垂直于底面的缺陷時回波聲壓太低，一般都盡可能避免使用折射角為70°的斜探頭(X)
151.使用窄脈沖寬頻帶探頭可以提高近表面缺陷的探測能力(0)
152.使用TR探頭可以提高近表面缺陷的探測能力(0)
153.提高探頭頻率，減小晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探測能力(0)
154.使用窄脈沖寬頻帶探頭不可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
155.使用TR探頭不可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
156.提高探頭頻率，減小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
157.提高探頭頻率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探測能力(X)
158.不同類型的缺陷對其回波高度的大小有很重要的影響(0)
159.缺陷中的內(nèi)涵物對其回波高度大小有很重要的影響(0)
160.缺陷的回波高度主要取決于其大小、形狀和取向，而在缺陷中的內(nèi)涵物對其回波高度大小沒有影響(X)
161.用AVG方法進(jìn)行定量評定時，不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果比考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果偏大(0)
162.用AVG方法進(jìn)行定量評定時，不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果比考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果偏小(X)
163.用AVG方法進(jìn)行定量評定時，不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果與考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果相同(X)
164.用AVG方法進(jìn)行定量評定時，不考慮材質(zhì)衰減和考慮材質(zhì)衰減的兩種缺陷定量結(jié)果都在允許的誤差范圍以內(nèi)(X)
165.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，由于多次反射之間的疊加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次高(0)
166.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，由于多次反射之間的疊加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次低(0)
167.管子的超聲波檢測只能采用水浸聚焦探傷方法，不宜采用斜探頭接觸法(X)
168.在鍛件的超聲波檢測中，選擇探測面的一個很重要的原則是：應(yīng)盡可能使透入鍛件的超聲波傳播方向與晶粒的變形方向相垂直(0)
169.在鍛件的超聲波檢測中，選擇探測面的一個很重要的原則是：應(yīng)盡可能使透入鍛件的超聲波傳播方向與晶粒的變形方向相平行(X)
170.在鍛件的超聲波檢測中，選擇探測面的一個很重要的原則是：應(yīng)從互相垂直的兩個方向上作****的掃查(0)
171.超聲波在介質(zhì)中傳播時，聲能的傳播是由各質(zhì)點(diǎn)的位移邊連續(xù)變化來傳遞的。(0)
172.聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對材料的聲阻抗無任何影響。(X)
173.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)（d33）大，則說明該晶片接收性能好(X)
174.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，則說明該晶片接收性能好(0)
175.探頭中壓電晶片背面加吸收塊石為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm，減少機(jī)械損耗(X)
176.表面波在介質(zhì)表面?zhèn)鞑r，介質(zhì)表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動，這種運(yùn)動可視為縱向振動與橫向振動的合成（0）
177.在板厚與波長相當(dāng)?shù)膹椥员“鍌鞑サ牟ǚQ為板波。根據(jù)質(zhì)點(diǎn)振動方向的不同可將這種波分為SH波和蘭姆波（0）
178.對稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作縱向振動，上下表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動，振動相位相反并對稱于中心（0）
179.非對稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作橫向振動，上下表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動，振動相位相同，不對稱（0）
180.板波的波速是隨頻率不同而不同的，具有頻散性質(zhì)（0）
181.板波的波速與縱波、橫波一樣，在特定材料中有固定的波速（X）
182.板波的波速不隨頻率變化（X）
183.在一定材料中的縱波波速不隨頻率變化（0）
184.在一定材料中的縱波波速會隨頻率不同而變化（X）
185.超聲波在介質(zhì)中的傳播過程，是能量傳播過程，沒有物質(zhì)的遷移（0）
186.超聲波在介質(zhì)中傳播時，其波長與聲速成正比，與頻率成反比（0）
187.表面波只能在固體表面?zhèn)鞑?，表面波的能量隨傳播深度增加而迅速減弱（0）
188.橫波是波的傳播方向與質(zhì)點(diǎn)振動方向垂直的一種波動類型，只能在固體介質(zhì)中傳播（0）
189.波的傳播方向稱為波線，它恒垂直于波陣面（0）
190.波陣面為同心球面的波稱為球面波，球面波各質(zhì)點(diǎn)的振幅與距離成反比（0）
191.超聲波探頭中的波源近似活塞振動，在各向同性的介質(zhì)中輻射的波稱為活塞波。當(dāng)距探頭的距離足夠遠(yuǎn)時，它類似于球面波（0）
192.超聲波探傷中廣泛采用的是脈沖波，脈沖波是波源振動持續(xù)時間很短，間歇輻射的波（0）
193.固體介質(zhì)的彈性模量愈大，密度愈小，則縱波聲速愈大（0）
194.在相同的聲壓下，材料的聲阻抗愈大，質(zhì)點(diǎn)振動速度就愈小，因此聲阻抗表示超聲場中介質(zhì)對質(zhì)點(diǎn)振動的阻礙作用（0）
195.超聲波聲場中，聲壓與超聲波頻率成正比，聲強(qiáng)與聲壓平方成正比，與頻率平方成正比（0）
196.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，反射波和透過波的聲能聲強(qiáng)分配比例由聲強(qiáng)反射率和聲強(qiáng)透過率來表示，它僅與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)（0）
197.超聲波垂直入射到某界面，如**介質(zhì)聲阻抗遠(yuǎn)大于**介質(zhì)聲阻抗，則聲壓反射率趨于-1，透過率趨于0（0）
198.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，聲壓往復(fù)透過率僅與界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗有關(guān)，與入射方向無關(guān)（0）
199.超聲波只有在斜射時才能在異質(zhì)界面發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，并且至少一側(cè)為固體（0）
200.超聲波檢測中，采用橫軸表示實(shí)際聲程，縱軸表示規(guī)則反射體相對波高的坐標(biāo)曲線是描述距離、波幅、當(dāng)量大小之間關(guān)系的曲線，又稱實(shí)用AVG曲線，在調(diào)節(jié)探傷靈敏度和對缺陷定量中得到了廣泛應(yīng)用（0）
201.所謂聲強(qiáng)，就是在單位時間內(nèi)垂直通過單位面積的超聲能量，它具有功的概念（0）
202.在異質(zhì)界面上，當(dāng)超聲波縱波的折射角等于90℃時的縱波入射角稱為**臨界角（0）
203.在異質(zhì)界面上，當(dāng)超聲波橫波的折射角等于90℃時的縱波入射角稱為**臨界角（0）
204.在固-液界面上，當(dāng)超聲波縱波的折射角等于90℃時的橫波入射角稱為第三臨界角（0）
205.在工業(yè)超聲波檢測中*常用的超聲波波型有縱波,橫波,表面波,板波（0）
206.超聲波的波長由聲速與頻率求得，而聲速則由材質(zhì)和波的種類決定（0）
207.超聲波檢測中，5MHz探頭的分辨率比10MHz探頭的分辨率差（0）
208.當(dāng)超聲波聲程大于3N時，如聲程相同，若平底孔面積相差一倍，則波高相差6dB，若長橫孔直徑相差一倍時，則波高相差3dB（0）
209.在超聲波檢測中，相同的探測靈敏度下，缺陷波幅決定于缺陷的大小、取向與類型（0）
210.幻影波是由于在探測衰減小的材料，使用過高的重復(fù)頻率，在檢查大鍛件時容易出現(xiàn)的情況（0）
211.超聲波檢測奧氏體焊縫的困難是粗晶導(dǎo)致衰減大，采取改進(jìn)的方法有使用縱波探頭、窄脈沖探頭和均值法（0）
212.超聲波探頭中的吸收塊所起的作用是抑制不需要的振動和吸收雜波，常用環(huán)氧樹脂粉加鎢粉制成（0）
213.超聲波探頭中的匹配吸收塊（即阻尼塊），其作用是阻尼晶片的振動使脈沖便窄，限制從晶片背面發(fā)射的聲波，以防止出現(xiàn)雜波。探頭若不加阻尼塊，始脈沖應(yīng)會變寬，盲區(qū)變大，分辯力降低（0）
214.用雙晶直探頭對平面工件探傷時，*好的操作方法是使隔聲層垂直于探頭掃查方向（0）
215.超聲波檢測用的探頭中，置于壓電晶片背面的阻尼塊有三個基本作用，**是用于固定晶片位置，**是用于吸收晶片背面的超聲波，第三是用于減少晶片持續(xù)振動時間，從而使得脈沖寬度變窄（0）
216.在利用實(shí)心軸上圓柱面底波按AVG方法校正探傷靈敏度時，軸的直徑應(yīng)不小于3.7N，通?？赏ㄟ^減小探頭尺寸使之實(shí)現(xiàn)（0）
217.焊縫的超聲波檢測一般應(yīng)在外觀檢查合格之后進(jìn)行，電渣焊的焊縫應(yīng)在正火處理之后進(jìn)行，容易產(chǎn)生延遲裂紋的焊縫應(yīng)在至少焊后24小時之后進(jìn)行。（0）
218.在焊縫的超聲波檢測中，一般都盡可能避免使用折射角為60°的斜探頭，因?yàn)槭褂眠@種探頭在遇到垂直于底面的缺陷時，其回波聲壓甚低（0）
219.提高近表面缺陷的探測能力應(yīng)從下面三方面著手：①用TR探頭；②使用窄脈沖寬頻帶探頭；③提高探頭頻率，減小晶片尺寸（0）
220.來自缺陷本身而影響缺陷回波高度的因素包括：①缺陷大??；②缺陷位置；③缺陷形狀；④缺陷取向；⑤缺陷性質(zhì)；⑥缺陷表面光滑度（平整度）等（0）
221.在探測工件側(cè)壁附近的缺陷時，由于存在著側(cè)壁干擾，所以探傷靈敏度會明顯偏低（0）
222.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，由于多次反射之間的疊加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是**次要比**次偏低（0）
223.在用AVG方法校正直探頭的探傷靈敏度時，被選用的底面應(yīng)滿足以下要求：①應(yīng)與探測面平行；②其表面應(yīng)平整光潔；③探頭離試件邊緣的各向尺寸應(yīng)≥4(λ·δ)1/2；④不與其他透聲物質(zhì)和吸聲物質(zhì)相接觸（0）
224.管子的超聲波檢測一般都采用水浸聚焦探傷方法，但只要探傷靈敏度能滿足要求，也可以采用斜探頭接觸法（0）
225.用直探頭從端部探測直徑為d的細(xì)棒狀工件時，在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生波型變換所致，其遲到波間距對于鋼材為0.76d（0）
226.根據(jù)回波高度和聲場反射規(guī)律進(jìn)行缺陷定量時，回波高度的測量應(yīng)在儀器的抑制旋鈕關(guān)閉以及增益微調(diào)旋鈕不動的狀態(tài)下進(jìn)行（0）
227.超聲波檢測儀的動態(tài)范圍應(yīng)是回波幅度從100%下降至剛能辨認(rèn)之*小值，一般指1%時，衰減器上讀得的分貝調(diào)節(jié)量（0）
228.常用的聚焦探頭使聲束聚焦的方法有多種，例如：用帶有曲率聲透鏡的平面晶片，在晶片前面放置帶曲面的有機(jī)玻璃塊曲面，把超聲波投射到反射面上，使用兩塊以上按一定曲率半徑放置的晶片等（0）
229.鋼板的直探頭探傷中，顯示于示波屏上的缺陷回波圖形可以分為三種，它們是：底波多次反射和缺陷的多次反射波同時出現(xiàn)、只有缺陷的多次反射波出現(xiàn)、只有一些紊亂的波（0）
230.鋼板探傷的掃查方式有：**掃查、格子線掃查、列線（平行線）掃查、邊緣掃查（0）
231.當(dāng)管子的壁厚與外徑之比大于0.2時，就無法使用純橫波進(jìn)行周向探傷，一般推薦使用的探傷方法是：利用折射透入管壁的縱波射向外壁，再利用該壁反射超聲波時產(chǎn)生的橫波射向內(nèi)壁，從而實(shí)現(xiàn)檢查管子內(nèi)、外壁缺陷的目的（0）
232.ASTMA609標(biāo)準(zhǔn)適用于碳鋼和低合金鋼的鑄件超聲波檢測，標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)校正直探頭探傷靈敏度使用的試塊，規(guī)定其底部平底孔直徑應(yīng)為1/4英寸或6.35mm（0）
233.對于鋼鍛件來說，可以通過加大鍛壓比，降低終鍛溫度和采用熱處理方法細(xì)化晶粒，減少超聲波的傳輸衰減，但是細(xì)化晶粒的熱處理方法不適用于奧氏體不銹鋼（0）
234.在鍛件的超聲波檢測中有兩個選擇探測面的原則經(jīng)常被采納使用，它們是：①應(yīng)盡可能使透入鍛件的超聲波傳播方向與晶粒的變形方向相垂直；②應(yīng)從互相垂直的兩個方向上作****的掃查（0）
235.超聲波通過異質(zhì)薄層時，聲壓反射率和透過率不僅與介質(zhì)聲阻抗和薄層聲阻抗有關(guān)，而且與薄層厚度與波長之比有關(guān)。（0）
236.橫波斜入射到異質(zhì)界面，使縱波反射角為90時的橫波入射角稱為第三臨界角，它的大小只與**介質(zhì)的縱波聲速和橫波聲速有關(guān)。（0）
237.超聲波平面波入射到球界面時，凹球面上的反射波好像是從實(shí)焦點(diǎn)發(fā)出的球面波；凹球面上的反射波好像是從虛焦點(diǎn)發(fā)出的球面波。（0）
238.介質(zhì)的散射衰減與頻率、晶粒直徑和各向異性系數(shù)有關(guān)。因此探傷晶粒較粗大的工件時，常常選用較低的頻率。（0）
239.固體介質(zhì)中的脈沖波聲場的近場區(qū)，其聲壓極值點(diǎn)數(shù)量較理想聲場減少，且極大極小值幅度差異縮小。
240.斜探頭橫波聲場近場區(qū)分布在兩種介質(zhì)中，近場長度隨入射角的增大而縮短。（0）
241.B型顯示探傷儀熒光屏的橫坐標(biāo)代表探頭掃查軌跡，縱坐標(biāo)代表聲波傳播時間。（0）
242.聚焦探頭的焦點(diǎn)尺寸與晶片直徑、波長和焦距有關(guān)，晶片直徑大，波長短，焦距小，則焦點(diǎn)小。（0）
243.縱波垂直法探傷中，由于側(cè)壁干涉的結(jié)果，側(cè)面壁附近的缺陷，靠近側(cè)壁探測時回波低，遠(yuǎn)離側(cè)壁探測時回波高。（0）
244.表面波探傷時，掃描速度調(diào)節(jié)一般是按聲程調(diào)節(jié)時基線掃描比例（0）
245.利用板波對薄板探傷時，如發(fā)現(xiàn)端頭信號前面有反射信號出現(xiàn)時，應(yīng)用手拍打確定缺陷確切位置。（0）
246.用直探頭對軸類鍛件（直徑為d）作軸向探測時，有時熒光屏上會出現(xiàn)遲到波。**次遲到波位于**次底波之后約0.76d處，以后各次遲到波間距相同。（0）
247.用直探頭對軸類鍛件（直徑為d）作徑向探測時，有時會出現(xiàn)三角反射波，兩次三角反射波總是位于**次底波之后，聲程分別為1.3d和1.67d（0）
248.對厚焊縫進(jìn)行串列法探傷時，探頭的移動方式分別為橫方形和縱方形兩種串列掃查形式（0）
249.目前，板厚3~8mm薄板焊縫的超聲波探傷常采用焊縫寬度法，此法所用斜探頭的聲場應(yīng)復(fù)蓋整個焊縫截面。（0）
250.數(shù)字化超聲波探傷儀和模擬式超聲波探傷儀的根本區(qū)別在于通過模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換把探頭接收到的模擬信號轉(zhuǎn)變成數(shù)字信號從而便于利用計算機(jī)技術(shù)進(jìn)行處理(0)
二、二. 問答題
1.超聲場分為幾個區(qū)域？各個區(qū)域的主要特征是什么？用示意圖注明簡述之
[提示]超聲場是由聲源發(fā)射超聲振動的空間而形成特殊場，它可以根據(jù)超聲在空間各部位聲壓大小不同，形象地用圖示方法表示出來（如下圖a）：超聲場分為近場和遠(yuǎn)場兩大部份，其中主聲束以錐體形狀（猶如鮮花主瓣），近場區(qū)內(nèi)主聲束以外的稱為副瓣。主聲束的擴(kuò)散角按零階貝塞爾函數(shù)計算出其主瓣的錐角范圍，即J1(X)=J1(kasinθ)，J1(X)有很多根，其中*小的根為X0=3.83，則sinθ0=3.83/ka=(3.83/2π)(λ/a)=(3.83/π)(λ/2a) sinθ=1.22(λ/D)[D=2a--晶片直徑，a為半徑]，求出θ0值即為主瓣的擴(kuò)散角（θ0），當(dāng)用J2(X)、J3(X)……分別求出**副瓣、**副瓣……的擴(kuò)散角θ1、θ2……等（如下圖b），同樣由sinθ=1.22(λ/D)求出，當(dāng)S=b=1.64(D2/4λ)=1.64N時，主聲束由晶片中心擴(kuò)散到晶片邊緣的距離（也可用二項(xiàng)式展開證明）（注：也有資料以1.67N為主聲束由晶片中心擴(kuò)散到晶片邊緣的距離）
2.試比較射線探傷與超聲波探傷兩種方法的適用范圍和局限性
[提示]：應(yīng)從兩種方法的靈敏度高低、檢測厚度范圍、易發(fā)現(xiàn)的缺陷形狀以及**防護(hù)和經(jīng)濟(jì)性等方面進(jìn)行比較
3．何謂波的、干涉現(xiàn)象？什么情況下合成振幅*大？什么情況下合成振幅*??？
答：①兩列頻率相同，振動方向相同，相位相同或相位差恒定的波相遇時，由于波疊加的結(jié)果，會使某些地方的振動始終互相加強(qiáng)，而另一些地方的振動始互相減弱或完全抵消，這種現(xiàn)象稱為波的干涉，產(chǎn)生干涉現(xiàn)象的波稱為相干波。相干波現(xiàn)象的產(chǎn)生是相干波傳播到各點(diǎn)時波程不同所致。②當(dāng)波程差等于波長的整數(shù)倍時，合成振幅達(dá)*大值。③當(dāng)波程差等于半波長的奇數(shù)倍時，合成振幅達(dá)*小值。
4．何謂駐波？為什么通常取晶片厚度等于半波長？
答：①兩列振幅相同的相干波，在同一直線上相向傳播時互相疊加而成的波，稱為駐波。②當(dāng)介質(zhì)厚度等于半波長整數(shù)倍時，會產(chǎn)生駐波。所以取晶片厚度可以形成駐波，產(chǎn)生共振，使合成振幅*大，有利于提高探頭輻射超聲波的效率。
5．什么是惠更斯原理？它有什么作用？
答：惠更斯原理：介質(zhì)中波動傳播到的各點(diǎn)都可以看到是發(fā)射子波的波源，其后任意時刻這些子波的包跡就是新的波陣面。利用惠更斯原理，可以確定不同波源輻射的聲波的形狀和波的傳播方向，可以解釋聲波在均勻和非均勻介質(zhì)中傳播的許多現(xiàn)象。
6.什么叫衰減？產(chǎn)生衰減的原因是什么？
答：超聲波在介質(zhì)中傳播時，隨著距離的增加，能量逐漸減小的現(xiàn)象叫做超聲波的衰減。超聲波衰減的原因主要有三個：① 擴(kuò)散衰減：超聲波在傳播中，由于聲束的擴(kuò)散，使能量逐漸分散，從而使單位面積內(nèi)超聲波的能量隨著傳播距離的增加而減小，導(dǎo)致聲壓和聲強(qiáng)的減小。② 散射衰減：當(dāng)聲波在傳播過程中，遇到不同聲阻抗的介質(zhì)組成的界面時，將發(fā)生散亂反射（即散射），從而損耗聲波能量，這種衰減叫散射衰減。散射主要在粗大晶粒（與波長相比）的界面上產(chǎn)生。由于晶粒排列不規(guī)則，聲波在斜傾的界面上發(fā)生反射、折射及波型轉(zhuǎn)換（統(tǒng)稱散射），導(dǎo)致聲波能量的損耗。③ 粘滯衰減：聲波在介質(zhì)中傳播時，由于介質(zhì)的粘滯性而造成質(zhì)點(diǎn)之間的內(nèi)壁摩擦，從而使一部分聲能變?yōu)闊崮堋Ｍ瑫r，由于介質(zhì)的熱傳導(dǎo)，介質(zhì)的疏、密部分之間進(jìn)行的熱交換，也導(dǎo)致聲能的損耗，這就是介質(zhì)的吸收現(xiàn)象。由介質(zhì)吸收引起的衰減叫做粘滯衰減。
7.什么叫超聲波聲場？反映超聲波聲場特征的重要物理量有哪幾個？什么叫聲壓、聲強(qiáng)、聲阻抗？
答：充滿超聲波的空間，或者說傳播超聲波的空間范圍叫做超聲波聲場。聲壓、聲強(qiáng)、聲阻抗是反映超聲波聲場特征的三個重要物理量，稱為超聲波聲場的特征量。超聲波聲場中某一點(diǎn)在某一瞬間所具有的壓強(qiáng)與沒有超聲波存在時，同一點(diǎn)的靜態(tài)壓強(qiáng)之差，稱為聲壓。單位時間內(nèi)穿過和超聲波傳播方向垂直的單位面積上的能量稱為聲強(qiáng)。介質(zhì)中的任何一點(diǎn)的聲壓和該質(zhì)點(diǎn)振動速度之比稱為聲阻抗。
8.超聲波檢測利用超聲波的哪些特性？
答：①超聲波有良好的指向性，在超聲波檢測中，聲源的尺寸一般都大于波長數(shù)倍以上，聲束能集中在特定方向上，因此可按幾何光學(xué)的原理判定缺陷位置。②超聲波在異質(zhì)介面上將產(chǎn)生反射、折射、波型轉(zhuǎn)換、利用這些特性，可以獲得從缺陷等異質(zhì)界面反射回來的反射波及不同波型，從而達(dá)到探傷的目的。③超聲波檢測中，由于頻率較高，固體中質(zhì)點(diǎn)的振動是難以察覺的。因?yàn)槁晱?qiáng)與頻率的平方成正比，所以超聲波的能量比聲波的能量大得多。④超聲波在固體中容易傳播。在固體中超聲波的散射程度取決于晶粒度與波長之比，當(dāng)晶粒小于波長時，幾乎沒有散射。在固體中，超聲波傳輸損失小，探測深度大。
9.在超聲波反射法檢測中為什么要使用脈沖波？
[提示]：①可使瞬時內(nèi)發(fā)射能量很大，而總能量不大；②可做時標(biāo)用，測量超聲波在工件中的傳播時間，從而對缺陷進(jìn)行定位；③不是單色波，可克服缺陷厚度對超聲波反射率與透過率的影響；④可顯著減少入射波與反射波之間干涉區(qū)的長度；⑤從工程技術(shù)上比較容易制造出脈沖波的超聲波檢測儀
10.什么叫波的疊加原理？
答：波動的下述規(guī)律稱為疊加原理：①兩列波在傳播過程中相遇后仍然保持它們各自原有的特性（頻率、波長、振幅等）不變，按照自己原來的傳播方向繼續(xù)前進(jìn)；②在相遇區(qū)域內(nèi)，任意一點(diǎn)的振動為兩列波所引起的振動的合成
11.什么叫波的繞射現(xiàn)象？
答：波在傳播過程中遇到尺寸可以與波長向比擬的障礙物，或者一個大障礙物上尺寸可與波長比擬的小孔時，能繞過障礙物或穿過小孔繼續(xù)傳播，而不會在障礙物背面產(chǎn)生“陰影”的現(xiàn)象叫做波的繞射現(xiàn)象
12.說明超聲波聲場具體分為哪幾個區(qū)域？
答：超聲波聲場具體分為四個區(qū)域：①主聲束和副瓣--聲源正前方，聲能*集中的錐形區(qū)域即為主聲束，聲源發(fā)射的聲能主要集中在主聲束。聲束副瓣也稱副聲束，通常出現(xiàn)在鄰近探頭晶片的一個區(qū)域內(nèi)，旁側(cè)于主聲束，其軸線傾斜于晶片表面，能量微弱，截面較小，晶片尺寸和波長之比的不同，副瓣的數(shù)量和輻射方向也不相同；②近場--指主聲束中心軸線上*后一個聲壓極大值處至晶片表面這一區(qū)域，近場長度用N表示，它取決于晶片的直徑D（或面積AS）和波長λ，用公式N=(D2-λ2)/4λ≈AS/πλ表示。近場區(qū)鄰近壓電晶片，聲壓分布*不均勻，這是由于該區(qū)域內(nèi)聲波干涉現(xiàn)象*嚴(yán)重，因此近場區(qū)也稱干涉區(qū)，干涉現(xiàn)象對探傷有很大影響，探傷時要盡量避免；③遠(yuǎn)場--近場以外的區(qū)域稱為遠(yuǎn)場。遠(yuǎn)場中各子波傳播的距離已經(jīng)很遠(yuǎn)，相位幾乎相等，各量可以簡單相加，聲壓值隨距離增加而單調(diào)下降。遠(yuǎn)場區(qū)的大小由晶片尺寸、波長、介質(zhì)的聲學(xué)特性及激勵晶片的電壓決定，實(shí)質(zhì)上即與超聲波的發(fā)射功率以及傳聲介質(zhì)特性相關(guān)；④未擴(kuò)散區(qū)--主聲束橫截面與聲源直徑相同之點(diǎn)至近場與遠(yuǎn)場分界點(diǎn)的一段區(qū)域稱為未擴(kuò)散區(qū)，該點(diǎn)至晶片表面的距離約為近場區(qū)長度的1.6倍，該區(qū)域中的平均聲壓可以看作常數(shù)，從該點(diǎn)開始，主聲束擴(kuò)散，形成錐體。
13.現(xiàn)有一合金材料（CL=2.3x106mm/s，CS=1.63x106mm/s），用2.5MHz13x13 tgβ=2（β=63.4°）（有機(jī)玻璃-鋼）的斜探頭，能否實(shí)現(xiàn)在該材料中的純橫波探傷？如果不能，請說明理由并提出應(yīng)采取什么措施？
答：不能，因?yàn)椴淮嬖?*臨界角，合金材料中始終是縱、橫波同時存在，解決的辦法是使波型轉(zhuǎn)換器（有機(jī)玻璃斜楔）的聲速降到C1L＜C2L的情況，例如改用水楔，此時水-合金材料的**臨界角為40°，只要水中入射角大于40°即可。
14.試從超聲波前進(jìn)方向的角度出發(fā)，廣義地敘述超聲波在界面上的行為。
答：廣義地說，超聲波在異質(zhì)界面上的行為有反射、折射、波型轉(zhuǎn)換或使超聲波束發(fā)生收斂、發(fā)散、繞射及散射。
15.在下圖中畫出超聲縱波從鈦合金中以45°斜入射到鋼中的反射與折射情況:
C鈦L=6150m/s C鈦S=3150m/s C鋼L=5850m/s C鋼S=3200m/s（標(biāo)準(zhǔn)圖形從略）
16.在平板對接焊縫的超聲波檢測中，為什么要用斜探頭在焊縫兩側(cè)的母材表面上進(jìn)行？
答：在焊縫母材兩側(cè)表面進(jìn)行探測便于檢出焊縫中各個方向的缺陷；便于使用一次、二次聲程掃查整個焊縫截面，不會漏檢；有些缺陷在一側(cè)面發(fā)現(xiàn)后，可在另一側(cè)面進(jìn)行驗(yàn)證；一般母材表面光潔度比焊縫高，易于探頭移動掃查，也可省去焊縫打磨的工作量
17.在棒材圓周面上進(jìn)行超聲探傷時,**次底波與**次底波之間可見到有兩個遲到波,如下圖所示,請指出這兩個遲到波各是什么波型?（前面為L-L-L波,后面為L-S-L波）
18.如何提高近表面缺陷的探測能力？
[提示]：提高近表面缺陷的探測能力應(yīng)從下面三方面著手：①用TR探頭；②使用窄脈沖寬頻帶探頭；③提高探頭頻率，減小晶片尺寸
19.畫出下圖中不同情況下聲波的收斂或發(fā)散的情況:自左向右：①發(fā)散 ②收斂 ③收斂 ④發(fā)散
20.將超聲波直探頭置于IIW1試塊側(cè)面上探測100mm距離的底波,如下圖所示在**次底波與**次底波之間前兩個遲到波各是什么波型?（前面為L-L-L波,后面為L-S-L波）
21.脈沖反射探傷法對探頭晶片有什么要求？
答：①轉(zhuǎn)換效率要高，盡可能降低轉(zhuǎn)換損失，以獲得較高的靈敏度，宜選用Kt（機(jī)電耦合系數(shù)）大的晶片。②脈沖持續(xù)時間盡可能短，即在激勵晶片后能迅速回復(fù)到靜止?fàn)顟B(tài)，以獲得較高的縱向分辯力和較小的盲區(qū)。③要有好的波形，以獲得好的頻譜包跡。④聲阻抗適當(dāng)，晶片與被檢材料的聲阻抗盡量接近，水浸法探傷時，晶片應(yīng)盡量與水的聲阻抗相近，以獲得較高的靈敏度。⑤高溫探傷時，居里點(diǎn)溫度要高。⑥制造大尺寸（直徑）探頭時，應(yīng)選擇介電常數(shù)小的晶片。⑦探頭實(shí)際中心頻率與名義頻率之間誤差小，頻譜包絡(luò)**峰。
22.下圖為CSK-IA試塊示意圖，試述其主要用途
[提示]①用于超聲波檢測儀器和探頭的組合性能測試；②標(biāo)定檢測距離，測定斜探頭的前沿距離和折射角；③調(diào)節(jié)超聲波檢測儀的相對靈敏度等
23.為什么超聲波檢測儀上的衰減器精度用每12dB中的誤差表示？
答：衰減器精度一般用標(biāo)準(zhǔn)平底孔試塊進(jìn)行測試，而平底孔孔徑每增加一倍相差12dB，如Φ2mm與Φ4mm在相同聲程時其反射波高相差12dB，在制造技術(shù)上，因?yàn)樵谑静ㄆ辽戏瓷洳ǜ甙?/span>20log規(guī)律變化，即12dB=20log4，或-12dB=20log(1/4)，即波形高度按1:4或4:1之比來測量，基于這兩個原因，故測量衰減器誤差按每12dB的誤差表示，從而容易測量和容易比較（例如對于π形衰減器電路，雖然使用“12dB”沒有多少方便之處，但作為超音波檢測儀器的統(tǒng)一指標(biāo)比較還是需要的），需要指出：在新型的超音波檢測儀上對衰減器精度的衡量已采用每2dB中的誤差表示。24.下圖為超聲波水浸法縱波檢測試件內(nèi)部缺陷的示意圖,試列舉影響缺陷反射波高的諸因素（標(biāo)準(zhǔn)答案從略，考察應(yīng)試者的系統(tǒng)分析能力）
25.簡述A型超聲波檢測儀的工作過程
答：儀器的工作過程是：儀器的同步電路產(chǎn)生方波，同時觸發(fā)發(fā)射電路、掃描電路和定位電路。發(fā)射電路被觸發(fā)后，激發(fā)探頭產(chǎn)生一個衰減很快的超音脈沖，這脈沖經(jīng)耦合傳送到工件內(nèi)，遇到不同介質(zhì)的界面時，產(chǎn)生回波?；夭ǚ瓷涞教筋^后，被轉(zhuǎn)換成電信號，儀器的接收電路對這些信號進(jìn)行放大，并通過顯示電路在熒光屏上顯示出來。
26.焊縫超聲波檢測中，干擾回波產(chǎn)生的原因是什么？我們怎樣判別干擾回波？
答：焊縫超聲波檢測中，由于焊縫幾何形狀復(fù)雜，由形狀產(chǎn)生干擾回波，另一方面是由于超聲波的擴(kuò)散、波型轉(zhuǎn)換和改變傳播方向等引起干擾回波。判別干擾回波的主要方法是用計算和分析的方法尋找各種回波的發(fā)生源，從而得知哪些是由于形狀和超聲波本身的變化引起的假信號，通常用手指沾耦合劑敲打干擾回波發(fā)生源、作為驗(yàn)證焊縫形狀引起假信號的輔助手段。
27.焊縫超聲波檢測中，有哪些主要的干擾回波？
答：焊縫超聲波檢測中，主要有以下8種干擾回波：①加強(qiáng)層干擾回波。②焊縫內(nèi)部未焊透反射引起的干擾回波。③單面焊襯板引起的干擾回波。④焊縫錯邊引起的干擾回波。⑤焊瘤引起的干擾回波。⑥焊偏引起的干擾回波。⑦焊縫表面溝槽引起的干擾回波。⑧油層引起的干擾回波。
28.在超聲波檢測中常用的缺陷指示長度測量方法各有什么優(yōu)缺點(diǎn)？
[提示]缺陷指示長度測量方法可分為相對靈敏度法和**靈敏度法：①相對靈敏度法（即6dB、10dB、20dB法），優(yōu)點(diǎn)是：耦合誤差和衰減影響?。徊皇芑夭ǜ叨扔绊?。缺點(diǎn)是：操作者主觀因素對探傷結(jié)果影響較大；操作誤差大，測量出來的指示長度可能大于缺陷長度；不能實(shí)現(xiàn)自動化探傷。②**靈敏度法，優(yōu)點(diǎn)：主觀性要求低，容易采用機(jī)械化；可以比較容易實(shí)現(xiàn)自動化探傷。缺點(diǎn)：表面接觸誤差大；回波高度影響大。
29.試述來自缺陷本身而影響缺陷回波高度的因素有哪些？
[提示]缺陷本身影響回波高度的因素有：①缺陷大??；②缺陷位置；③缺陷形狀；④缺陷取向；⑤缺陷性質(zhì)；⑥缺陷表面光滑度（平整度）等
30.如何選擇焊縫探傷中的斜探頭折射角？
答：為使整個焊縫截面不漏檢，選用的折射角β必須滿足tgβ≥(D+L)/T，式中：D-焊縫寬度；L-探頭前沿長度；T-鋼板厚度
31.當(dāng)用前沿尺寸a=15mm的斜探頭檢查一條板厚T=18mm的平板對接焊縫時，在某個局部長度范圍內(nèi)遇到了焊寬D1=32mm，D2=28mm，余高δ1=8mm，δ2=8mm的情況（由補(bǔ)焊造成），將會發(fā)生什么問題？為了選擇合適的折射角，應(yīng)采取哪些措施？請說明理由。
答：因?yàn)檠a(bǔ)焊，使D1=32mm，D2=28mm，焊縫加寬（加強(qiáng)層變大，δ=8mm），故為了不漏檢必須增大探頭折射角β，有兩個措施：①換用折射角β大些的探頭，這里用tgβ=2.5較適宜；或者②將原探頭后部磨去一部分使折射角增大來解決這一問題
32．何謂三角反射波？它有什么特征？
答：用縱波直探頭徑向探測實(shí)心圓柱體鍛件或棒材時，由于探頭平面與柱面接觸面小，聲束擴(kuò)散角增大，擴(kuò)散聲束可能會在圓柱面上形成三角反射路徑，從而在熒光屏上特定位置出現(xiàn)反射波，這種波即稱為三角反射波。三角反射波一般有二次，均出現(xiàn)在**次底波B1之后，且位置是固定的，一次是縱波擴(kuò)散聲束在圓柱面上不發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，形成等邊三角形反射，如圓柱體直徑為d，則這一反射波聲程為1.3d；另一次是縱波擴(kuò)散聲束在一柱體面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，形成等腰三角形反射，其聲程為1.67d
33.采用斜探頭對對接焊縫進(jìn)行超聲波探傷時，平面型缺陷與非平面型缺陷的判別方法如何？（答案從略）
34.為什么反射法探傷采用脈沖超聲波？（答案從略）
35.影響外曲率補(bǔ)償系數(shù)的因素有哪些？除提高增益外還有哪些補(bǔ)償辦法？（答案從略）
36.用能量守恒或力的平衡觀點(diǎn)證明：在異質(zhì)界面上，聲壓透過率Tp等于1+Rp（聲壓反射率）是正確的 （答案從略）
37.請對GB/T3323-2005和JB/T4730.3-2005這兩個標(biāo)準(zhǔn)任選一個談?wù)剬ζ鋬?yōu)缺點(diǎn)及改進(jìn)意見的看法（答案從略）
38.為什么對接焊縫的超聲波探傷一般都是在焊縫兩側(cè)的母材上用斜探頭進(jìn)行？
[提示]：①在焊縫母材兩側(cè)表面進(jìn)行探測便于檢出焊縫中各個方向的缺陷；②便于使用一次、二次聲程掃查整個焊縫截面，不會漏檢；③有些缺陷在一側(cè)面發(fā)現(xiàn)后，可在另一側(cè)面進(jìn)行驗(yàn)證；④一般母材表面光潔度比焊縫高，易于探頭移動掃查，也可省去焊縫打磨的工作量，故此，焊縫探傷都用斜探頭在焊縫兩側(cè)的母材上表面進(jìn)行
39.在什么情況下容易出現(xiàn)幻覺波（即殘響效應(yīng)）？如何加以識別？（答案從略）
40.試述脈沖反射式超聲波探傷中影響缺陷回波高度的各種因素 （答案從略）
41.采取什么措施可以提高近表面缺陷的檢測能力？
[提示]：提高近表面缺陷的探測能力應(yīng)從下面三方面著手：①用TR探頭；②使用窄脈沖寬頻帶探頭；③提高探頭頻率，減小晶片尺寸
42.試述相對靈敏度測長法及**靈敏度測長法的優(yōu)缺點(diǎn)
[提示]缺陷指示長度測量方法可分為相對靈敏度法和**靈敏度法：①相對靈敏度法（即6dB、10dB、20dB法），優(yōu)點(diǎn)是：耦合誤差和衰減影響??；不受回波高度影響。缺點(diǎn)是：操作者主觀因素對探傷結(jié)果影響較大；操作誤差大，測量出來的指示長度可能大于缺陷長度；不能實(shí)現(xiàn)自動化探傷。②**靈敏度法，優(yōu)點(diǎn)：主觀性要求低，容易采用機(jī)械化；可以比較容易實(shí)現(xiàn)自動化探傷。缺點(diǎn)：表面接觸誤差大；回波高度影響大。
43.對焊縫而言，采用射線照相法與超聲波檢驗(yàn)法各有什么優(yōu)缺點(diǎn)？（答案從略）
44.為什么在超聲儀器性能評定中通常只要求測量電噪聲電平，而不要求對電和聲共同引起的噪聲電平進(jìn)行測量？
答：因?yàn)樵诔曁絺?，聲噪聲要在超聲波的傳播過程中才能產(chǎn)生，若用試塊代替?zhèn)鞑ソ橘|(zhì)，由于目前還沒有建立測量試塊中聲噪聲的理想方法，因此采用不同的試塊，可能會得到不同的測量結(jié)果，失去測量意義
